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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « X. H. Xiao »
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X. H. Xia < X. H. Xiao < X. H. Xu  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
001258 (2007) The use of electron backscatter diffraction to measure the elastic strain fields in a misfit dislocation-free InGaAsP/InP heterostructure

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Buffer layer
1EBSD
1Elastic fields
1Epitaxial layers
1Gallium Arsenides phosphides
1Heterostructures
1Indium Arsenides phosphides
1Indium phosphide
1Interface structure
1Misfit dislocations
1Mismatch lattice
1Scanning electron microscopy
1Strain distribution
1Transmission electron microscopy

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |index=    Author.i
   |clé=    X. H. Xiao
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Wicri

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