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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Semiconductor device testing »
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Semiconductor device structures < Semiconductor device testing < Semiconductor devices  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000C41 (2003-05-01) Analysis of multijunction solar cell degradation in space and irradiation induced recombination centers
001602 (1999-02) Fabrication and characterization of InP heterojunction bipolar transistors with emitter edges parallel to [001] and [010] crystal orientations

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i -k "Semiconductor device testing" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Semiconductor device testing" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/biblio.hfd

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{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Semiconductor device testing
}}
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