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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Secondary ion mass spectra »
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Secondary ion emission < Secondary ion mass spectra < Secondary ion mass spectrometry  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000583 (2008) Effect of thermal annealing on the electrical properties of indium tin oxide (ITO) contact on Be-doped GaAs for optoelectronic applications
000B29 (2004) Large-area Cd-free CIGS solar modules with In2S3buffer layer deposited by ALCVD
000C44 (2003-04-15) Diffusion of deuterium (hydrogen) in previously hydrogenated (deuterated) III-V semiconductors
001304 (2000-11-15) Diffusions in (In,Se)-Cu(In,Ga)Se2/SnO2 thin film structures
001B33 (1997-05) Anisotropic etching of InP with low sidewall and surface induced damage in inductively coupled plasma etching using SiCl4

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