InforLorV4, Main, Exploration, bibRecordById, Pascal:01-0379140

Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite

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Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite

Auteurs : Daoud Ait-Kadi [France] ; JINSHENG GAO [France] ; Marie-Claude Portmann [France]

Source :

RBID : Pascal:01-0379140

Descripteurs français

Pascal (Inist)
- Fiabilité système, Minimisation coût, Système complexe, Détection panne, Diagnostic panne, Arbre défaut, Approche probabiliste.

English descriptors

KwdEn :
- Complex system, Cost minimization, Failure detection, Fault diagnostic, Fault tree, Probabilistic approach, System reliability.

Abstract

Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.

Affiliations:

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to stream PascalFrancis, to step Corpus: 000939
to stream PascalFrancis, to step Curation: 000137
to stream PascalFrancis, to step Checkpoint: 000859
to stream Main, to step Merge: 009942
to stream Main, to step Curation: 009420

Le document en format XML

<record><TEI><teiHeader><fileDesc><titleStmt><title xml:lang="fr" level="a">Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite</title>
<author><name sortKey="Ait Kadi, Daoud" sort="Ait Kadi, Daoud" uniqKey="Ait Kadi D" first="Daoud" last="Ait-Kadi">Daoud Ait-Kadi</name>
<affiliation wicri:level="1"><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
<country>France</country>
<wicri:noRegion>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Jinsheng Gao" sort="Jinsheng Gao" uniqKey="Jinsheng Gao" last="Jinsheng Gao">JINSHENG GAO</name>
<affiliation wicri:level="1"><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
<country>France</country>
<wicri:noRegion>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Portmann, Marie Claude" sort="Portmann, Marie Claude" uniqKey="Portmann M" first="Marie-Claude" last="Portmann">Marie-Claude Portmann</name>
<affiliation wicri:level="3"><inist:fA14 i1="02"><s1>Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt</s1>
<s2>54042 Nancy</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>3 aut.</sZ>
</inist:fA14>
<country>France</country>
<placeName><region type="region" nuts="2">Grand Est</region>
<region type="old region" nuts="2">Lorraine (région)</region>
<settlement type="city">Nancy</settlement>
</placeName>
</affiliation>
</author>
</titleStmt>
<publicationStmt><idno type="wicri:source">INIST</idno>
<idno type="inist">01-0379140</idno>
<date when="2001">2001</date>
<idno type="stanalyst">PASCAL 01-0379140 INIST</idno>
<idno type="RBID">Pascal:01-0379140</idno>
<idno type="wicri:Area/PascalFrancis/Corpus">000939</idno>
<idno type="wicri:Area/PascalFrancis/Curation">000137</idno>
<idno type="wicri:Area/PascalFrancis/Checkpoint">000859</idno>
<idno type="wicri:explorRef" wicri:stream="PascalFrancis" wicri:step="Checkpoint">000859</idno>
<idno type="wicri:Area/Main/Merge">009942</idno>
<idno type="wicri:Area/Main/Curation">009420</idno>
<idno type="wicri:Area/Main/Exploration">009420</idno>
</publicationStmt>
<sourceDesc><biblStruct><analytic><title xml:lang="fr" level="a">Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite</title>
<author><name sortKey="Ait Kadi, Daoud" sort="Ait Kadi, Daoud" uniqKey="Ait Kadi D" first="Daoud" last="Ait-Kadi">Daoud Ait-Kadi</name>
<affiliation wicri:level="1"><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
<country>France</country>
<wicri:noRegion>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Jinsheng Gao" sort="Jinsheng Gao" uniqKey="Jinsheng Gao" last="Jinsheng Gao">JINSHENG GAO</name>
<affiliation wicri:level="1"><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
<country>France</country>
<wicri:noRegion>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
<wicri:noRegion>Département Génie Mécanique Université Laval</wicri:noRegion>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Portmann, Marie Claude" sort="Portmann, Marie Claude" uniqKey="Portmann M" first="Marie-Claude" last="Portmann">Marie-Claude Portmann</name>
<affiliation wicri:level="3"><inist:fA14 i1="02"><s1>Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt</s1>
<s2>54042 Nancy</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>3 aut.</sZ>
</inist:fA14>
<country>France</country>
<placeName><region type="region" nuts="2">Grand Est</region>
<region type="old region" nuts="2">Lorraine (région)</region>
<settlement type="city">Nancy</settlement>
</placeName>
</affiliation>
</author>
</analytic>
</biblStruct>
</sourceDesc>
</fileDesc>
<profileDesc><textClass><keywords scheme="KwdEn" xml:lang="en"><term>Complex system</term>
<term>Cost minimization</term>
<term>Failure detection</term>
<term>Fault diagnostic</term>
<term>Fault tree</term>
<term>Probabilistic approach</term>
<term>System reliability</term>
</keywords>
<keywords scheme="Pascal" xml:lang="fr"><term>Fiabilité système</term>
<term>Minimisation coût</term>
<term>Système complexe</term>
<term>Détection panne</term>
<term>Diagnostic panne</term>
<term>Arbre défaut</term>
<term>Approche probabiliste</term>
</keywords>
</textClass>
</profileDesc>
</teiHeader>
<front><div type="abstract" xml:lang="fr">Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.</div>
</front>
</TEI>
<affiliations><list><country><li>France</li>
</country>
<region><li>Grand Est</li>
<li>Lorraine (région)</li>
</region>
<settlement><li>Nancy</li>
</settlement>
</list>
<tree><country name="France"><noRegion><name sortKey="Ait Kadi, Daoud" sort="Ait Kadi, Daoud" uniqKey="Ait Kadi D" first="Daoud" last="Ait-Kadi">Daoud Ait-Kadi</name>
</noRegion>
<name sortKey="Jinsheng Gao" sort="Jinsheng Gao" uniqKey="Jinsheng Gao" last="Jinsheng Gao">JINSHENG GAO</name>
<name sortKey="Portmann, Marie Claude" sort="Portmann, Marie Claude" uniqKey="Portmann M" first="Marie-Claude" last="Portmann">Marie-Claude Portmann</name>
</country>
</tree>
</affiliations>
</record>

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EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Lorraine/explor/InforLorV4/Data/Main/Exploration

HfdSelect -h $EXPLOR_STEP/biblio.hfd -nk 009420 | SxmlIndent | more

HfdSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Main/Exploration/biblio.hfd -nk 009420 | SxmlIndent | more

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{{Explor lien
   |wiki=    Wicri/Lorraine
   |area=    InforLorV4
   |flux=    Main
   |étape=   Exploration
   |type=    RBID
   |clé=     Pascal:01-0379140
   |texte=   Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite
}}

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English descriptors

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