InforLorV4, PascalFrancis, Corpus, bibRecord, 000939

Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite

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Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite

Auteurs : Daoud Ait-Kadi ; JINSHENG GAO ; Marie-Claude Portmann

Source :

RBID : Pascal:01-0379140

Descripteurs français

Pascal (Inist)
- Fiabilité système, Minimisation coût, Système complexe, Détection panne, Diagnostic panne, Arbre défaut, Approche probabiliste.

English descriptors

KwdEn :
- Complex system, Cost minimization, Failure detection, Fault diagnostic, Fault tree, Probabilistic approach, System reliability.

Abstract

Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.

Notice en format standard (ISO 2709)

Pour connaître la documentation sur le format Inist Standard.

A08	`01`	`1`	`FRE`	`@1 Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite`
A09	`01`	`1`	`FRE`	`@1 Conception, analyse et gestion des sytèmes industriels : Troyes, 25-27 avril 2001`
A11	`01`	`1`		`@1 AIT-KADI (Daoud)`
A11	`02`	`1`		`@1 JINSHENG GAO`
A11	`03`	`1`		`@1 PORTMANN (Marie-Claude)`
A12	`01`	`1`		`@1 DOLGUI (Alexandre) @9 ed.`
A12	`02`	`1`		`@1 VERNADAT (François) @9 ed.`
A14	`01`			`@1 Département Génie Mécanique Université Laval @2 Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA @3 FRA @Z 1 aut. @Z 2 aut.`
A14	`02`			`@1 Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt @2 54042 Nancy @3 FRA @Z 3 aut.`
A18	`01`	`1`		`@1 Université de technologie de Troyes @2 Troyes @3 FRA @9 patr.`
A20				`@2 V2, 781-797`
A21				`@1 2001`
A23	`01`			`@0 FRE`
A25	`01`			`@1 Society for Computer Simulation International @2 Ghent`
A26	`01`			`@0 1-56555-212-1`
A30	`01`	`1`	`FRE`	`@1 MOSIM '01 : conference francophone de modélisation et simulation @2 3 @3 Troyes FRA @4 2001-04-25`
A43	`01`			`@1 INIST @2 Y 33233 @5 354000092488171030`
A44				`@0 0000 @1 © 2001 INIST-CNRS. All rights reserved.`
A45				`@0 10 ref.`
A47	`01`	`1`		`@0 01-0379140`
A60				`@1 C`
A61				`@0 A`
A66	`01`			`@0 BEL`
A68	`01`	`1`	`ENG`	`@1 Minimizing the failure detection cost from minimal cut of the reliability chart`
C01	`01`		`FRE`	@0 Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.
C02	`01`	`X`		`@0 001D01A06`
C03	`01`	`X`	`FRE`	`@0 Fiabilité système @5 03`
C03	`01`	`X`	`ENG`	`@0 System reliability @5 03`
C03	`01`	`X`	`SPA`	`@0 Fiabilidad sistema @5 03`
C03	`02`	`X`	`FRE`	`@0 Minimisation coût @5 04`
C03	`02`	`X`	`ENG`	`@0 Cost minimization @5 04`
C03	`02`	`X`	`SPA`	`@0 Minimización costo @5 04`
C03	`03`	`X`	`FRE`	`@0 Système complexe @5 05`
C03	`03`	`X`	`ENG`	`@0 Complex system @5 05`
C03	`03`	`X`	`SPA`	`@0 Sistema complejo @5 05`
C03	`04`	`X`	`FRE`	`@0 Détection panne @5 06`
C03	`04`	`X`	`ENG`	`@0 Failure detection @5 06`
C03	`04`	`X`	`SPA`	`@0 Detección falla @5 06`
C03	`05`	`X`	`FRE`	`@0 Diagnostic panne @5 07`
C03	`05`	`X`	`ENG`	`@0 Fault diagnostic @5 07`
C03	`05`	`X`	`SPA`	`@0 Diagnóstico pana @5 07`
C03	`06`	`X`	`FRE`	`@0 Arbre défaut @5 08`
C03	`06`	`X`	`ENG`	`@0 Fault tree @5 08`
C03	`06`	`X`	`SPA`	`@0 Arbol defecto @5 08`
C03	`07`	`X`	`FRE`	`@0 Approche probabiliste @5 12`
C03	`07`	`X`	`ENG`	`@0 Probabilistic approach @5 12`
C03	`07`	`X`	`SPA`	`@0 Enfoque probabilista @5 12`
N21				`@1 267`

Format Inist (serveur)

NO :	PASCAL 01-0379140 INIST
FT :	Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite
ET :	(Minimizing the failure detection cost from minimal cut of the reliability chart)
AU :	AIT-KADI (Daoud); JINSHENG GAO; PORTMANN (Marie-Claude); DOLGUI (Alexandre); VERNADAT (François)
AF :	Département Génie Mécanique Université Laval/Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA/France (1 aut., 2 aut.); Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt/54042 Nancy/France (3 aut.)
DT :	Congrès; Niveau analytique
SO :	MOSIM '01 : conference francophone de modélisation et simulation/3/2001-04-25/Troyes FRA; Belgique; Ghent: Society for Computer Simulation International; Da. 2001; V2, 781-797; ISBN 1-56555-212-1
LA :	Français
FA :	Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.
CC :	001D01A06
FD :	Fiabilité système; Minimisation coût; Système complexe; Détection panne; Diagnostic panne; Arbre défaut; Approche probabiliste
ED :	System reliability; Cost minimization; Complex system; Failure detection; Fault diagnostic; Fault tree; Probabilistic approach
SD :	Fiabilidad sistema; Minimización costo; Sistema complejo; Detección falla; Diagnóstico pana; Arbol defecto; Enfoque probabilista
LO :	INIST-Y 33233.354000092488171030
ID :	01-0379140

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Pascal:01-0379140

Le document en format XML

<record><TEI><teiHeader><fileDesc><titleStmt><title xml:lang="fr" level="a">Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite</title>
<author><name sortKey="Ait Kadi, Daoud" sort="Ait Kadi, Daoud" uniqKey="Ait Kadi D" first="Daoud" last="Ait-Kadi">Daoud Ait-Kadi</name>
<affiliation><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Jinsheng Gao" sort="Jinsheng Gao" uniqKey="Jinsheng Gao" last="Jinsheng Gao">JINSHENG GAO</name>
<affiliation><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Portmann, Marie Claude" sort="Portmann, Marie Claude" uniqKey="Portmann M" first="Marie-Claude" last="Portmann">Marie-Claude Portmann</name>
<affiliation><inist:fA14 i1="02"><s1>Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt</s1>
<s2>54042 Nancy</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>3 aut.</sZ>
</inist:fA14>
</affiliation>
</author>
</titleStmt>
<publicationStmt><idno type="wicri:source">INIST</idno>
<idno type="inist">01-0379140</idno>
<date when="2001">2001</date>
<idno type="stanalyst">PASCAL 01-0379140 INIST</idno>
<idno type="RBID">Pascal:01-0379140</idno>
<idno type="wicri:Area/PascalFrancis/Corpus">000939</idno>
</publicationStmt>
<sourceDesc><biblStruct><analytic><title xml:lang="fr" level="a">Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite</title>
<author><name sortKey="Ait Kadi, Daoud" sort="Ait Kadi, Daoud" uniqKey="Ait Kadi D" first="Daoud" last="Ait-Kadi">Daoud Ait-Kadi</name>
<affiliation><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Jinsheng Gao" sort="Jinsheng Gao" uniqKey="Jinsheng Gao" last="Jinsheng Gao">JINSHENG GAO</name>
<affiliation><inist:fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</inist:fA14>
</affiliation>
</author>
<author><name sortKey="Portmann, Marie Claude" sort="Portmann, Marie Claude" uniqKey="Portmann M" first="Marie-Claude" last="Portmann">Marie-Claude Portmann</name>
<affiliation><inist:fA14 i1="02"><s1>Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt</s1>
<s2>54042 Nancy</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>3 aut.</sZ>
</inist:fA14>
</affiliation>
</author>
</analytic>
</biblStruct>
</sourceDesc>
</fileDesc>
<profileDesc><textClass><keywords scheme="KwdEn" xml:lang="en"><term>Complex system</term>
<term>Cost minimization</term>
<term>Failure detection</term>
<term>Fault diagnostic</term>
<term>Fault tree</term>
<term>Probabilistic approach</term>
<term>System reliability</term>
</keywords>
<keywords scheme="Pascal" xml:lang="fr"><term>Fiabilité système</term>
<term>Minimisation coût</term>
<term>Système complexe</term>
<term>Détection panne</term>
<term>Diagnostic panne</term>
<term>Arbre défaut</term>
<term>Approche probabiliste</term>
</keywords>
</textClass>
</profileDesc>
</teiHeader>
<front><div type="abstract" xml:lang="fr">Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.</div>
</front>
</TEI>
<inist><standard h6="B"><pA><fA08 i1="01" i2="1" l="FRE"><s1>Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite</s1>
</fA08>
<fA09 i1="01" i2="1" l="FRE"><s1>Conception, analyse et gestion des sytèmes industriels : Troyes, 25-27 avril 2001</s1>
</fA09>
<fA11 i1="01" i2="1"><s1>AIT-KADI (Daoud)</s1>
</fA11>
<fA11 i1="02" i2="1"><s1>JINSHENG GAO</s1>
</fA11>
<fA11 i1="03" i2="1"><s1>PORTMANN (Marie-Claude)</s1>
</fA11>
<fA12 i1="01" i2="1"><s1>DOLGUI (Alexandre)</s1>
<s9>ed.</s9>
</fA12>
<fA12 i1="02" i2="1"><s1>VERNADAT (François)</s1>
<s9>ed.</s9>
</fA12>
<fA14 i1="01"><s1>Département Génie Mécanique Université Laval</s1>
<s2>Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>1 aut.</sZ>
<sZ>2 aut.</sZ>
</fA14>
<fA14 i1="02"><s1>Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt</s1>
<s2>54042 Nancy</s2>
<s3>FRA</s3>
<sZ>3 aut.</sZ>
</fA14>
<fA18 i1="01" i2="1"><s1>Université de technologie de Troyes</s1>
<s2>Troyes</s2>
<s3>FRA</s3>
<s9>patr.</s9>
</fA18>
<fA20><s2>V2, 781-797</s2>
</fA20>
<fA21><s1>2001</s1>
</fA21>
<fA23 i1="01"><s0>FRE</s0>
</fA23>
<fA25 i1="01"><s1>Society for Computer Simulation International</s1>
<s2>Ghent</s2>
</fA25>
<fA26 i1="01"><s0>1-56555-212-1</s0>
</fA26>
<fA30 i1="01" i2="1" l="FRE"><s1>MOSIM '01 : conference francophone de modélisation et simulation</s1>
<s2>3</s2>
<s3>Troyes FRA</s3>
<s4>2001-04-25</s4>
</fA30>
<fA43 i1="01"><s1>INIST</s1>
<s2>Y 33233</s2>
<s5>354000092488171030</s5>
</fA43>
<fA44><s0>0000</s0>
<s1>© 2001 INIST-CNRS. All rights reserved.</s1>
</fA44>
<fA45><s0>10 ref.</s0>
</fA45>
<fA47 i1="01" i2="1"><s0>01-0379140</s0>
</fA47>
<fA60><s1>C</s1>
</fA60>
<fA61><s0>A</s0>
</fA61>
<fA66 i1="01"><s0>BEL</s0>
</fA66>
<fA68 i1="01" i2="1" l="ENG"><s1>Minimizing the failure detection cost from minimal cut of the reliability chart</s1>
</fA68>
<fC01 i1="01" l="FRE"><s0>Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.</s0>
</fC01>
<fC02 i1="01" i2="X"><s0>001D01A06</s0>
</fC02>
<fC03 i1="01" i2="X" l="FRE"><s0>Fiabilité système</s0>
<s5>03</s5>
</fC03>
<fC03 i1="01" i2="X" l="ENG"><s0>System reliability</s0>
<s5>03</s5>
</fC03>
<fC03 i1="01" i2="X" l="SPA"><s0>Fiabilidad sistema</s0>
<s5>03</s5>
</fC03>
<fC03 i1="02" i2="X" l="FRE"><s0>Minimisation coût</s0>
<s5>04</s5>
</fC03>
<fC03 i1="02" i2="X" l="ENG"><s0>Cost minimization</s0>
<s5>04</s5>
</fC03>
<fC03 i1="02" i2="X" l="SPA"><s0>Minimización costo</s0>
<s5>04</s5>
</fC03>
<fC03 i1="03" i2="X" l="FRE"><s0>Système complexe</s0>
<s5>05</s5>
</fC03>
<fC03 i1="03" i2="X" l="ENG"><s0>Complex system</s0>
<s5>05</s5>
</fC03>
<fC03 i1="03" i2="X" l="SPA"><s0>Sistema complejo</s0>
<s5>05</s5>
</fC03>
<fC03 i1="04" i2="X" l="FRE"><s0>Détection panne</s0>
<s5>06</s5>
</fC03>
<fC03 i1="04" i2="X" l="ENG"><s0>Failure detection</s0>
<s5>06</s5>
</fC03>
<fC03 i1="04" i2="X" l="SPA"><s0>Detección falla</s0>
<s5>06</s5>
</fC03>
<fC03 i1="05" i2="X" l="FRE"><s0>Diagnostic panne</s0>
<s5>07</s5>
</fC03>
<fC03 i1="05" i2="X" l="ENG"><s0>Fault diagnostic</s0>
<s5>07</s5>
</fC03>
<fC03 i1="05" i2="X" l="SPA"><s0>Diagnóstico pana</s0>
<s5>07</s5>
</fC03>
<fC03 i1="06" i2="X" l="FRE"><s0>Arbre défaut</s0>
<s5>08</s5>
</fC03>
<fC03 i1="06" i2="X" l="ENG"><s0>Fault tree</s0>
<s5>08</s5>
</fC03>
<fC03 i1="06" i2="X" l="SPA"><s0>Arbol defecto</s0>
<s5>08</s5>
</fC03>
<fC03 i1="07" i2="X" l="FRE"><s0>Approche probabiliste</s0>
<s5>12</s5>
</fC03>
<fC03 i1="07" i2="X" l="ENG"><s0>Probabilistic approach</s0>
<s5>12</s5>
</fC03>
<fC03 i1="07" i2="X" l="SPA"><s0>Enfoque probabilista</s0>
<s5>12</s5>
</fC03>
<fN21><s1>267</s1>
</fN21>
</pA>
</standard>
<server><NO>PASCAL 01-0379140 INIST</NO>
<FT>Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite</FT>
<ET>(Minimizing the failure detection cost from minimal cut of the reliability chart)</ET>
<AU>AIT-KADI (Daoud); JINSHENG GAO; PORTMANN (Marie-Claude); DOLGUI (Alexandre); VERNADAT (François)</AU>
<AF>Département Génie Mécanique Université Laval/Sainte-Foy (Québec) G1K 7P4 CANADA/France (1 aut., 2 aut.); Loria-INPL et INRIA-Lorraine Ecole des Mines de Nancy (INPL) Parc de Saurupt/54042 Nancy/France (3 aut.)</AF>
<DT>Congrès; Niveau analytique</DT>
<SO>MOSIM '01 : conference francophone de modélisation et simulation/3/2001-04-25/Troyes FRA; Belgique; Ghent: Society for Computer Simulation International; Da. 2001; V2, 781-797; ISBN 1-56555-212-1</SO>
<LA>Français</LA>
<FA>Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.</FA>
<CC>001D01A06</CC>
<FD>Fiabilité système; Minimisation coût; Système complexe; Détection panne; Diagnostic panne; Arbre défaut; Approche probabiliste</FD>
<ED>System reliability; Cost minimization; Complex system; Failure detection; Fault diagnostic; Fault tree; Probabilistic approach</ED>
<SD>Fiabilidad sistema; Minimización costo; Sistema complejo; Detección falla; Diagnóstico pana; Arbol defecto; Enfoque probabilista</SD>
<LO>INIST-Y 33233.354000092488171030</LO>
<ID>01-0379140</ID>
</server>
</inist>
</record>

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Lorraine/explor/InforLorV4/Data/PascalFrancis/Corpus

HfdSelect -h $EXPLOR_STEP/biblio.hfd -nk 000939 | SxmlIndent | more

HfdSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/PascalFrancis/Corpus/biblio.hfd -nk 000939 | SxmlIndent | more

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{{Explor lien
   |wiki=    Wicri/Lorraine
   |area=    InforLorV4
   |flux=    PascalFrancis
   |étape=   Corpus
   |type=    RBID
   |clé=     Pascal:01-0379140
   |texte=   Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite
}}

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Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite

Minimisation des couts de detection de pannes a partir des coupes minimales du diagramme de fiabilite

Source :

Descripteurs français

English descriptors

Abstract

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