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Journée XGamma 2013 Nancy
La 4e journée du centre de compétences XGamma se déroule à l'Institut Jean Lamour le 30 mai 2013, sur le thème SAXS, tomographie X et caractérisation de films minces.
Contexte
La diffraction des rayons X est une technique de base pour la caractérisation des matériaux. A ce titre, le centre de compétences XGamma est équipé d’un certain nombre d’appareils permettant de caractériser les matériaux (monocristallins, couches minces, poudres, polymères...). Cette 4e journée s’appliquera à nous présenter 3 techniques particulières utilisées au centre de compétences et à faire le point sur les avancées technologiques, scientifiques et informatiques dans ces domaines :
- diffusion aux petits angles (SAXS) : le centre est équipé d’un appareil fonctionnant avec une anticathode de cuivre, un miroir focalisant et un détecteur "image plate" situé à une distance maximale de 2.6m
- tomographie X : le centre de compétence est équipé depuis 2009, d’un nanotomographe de la société Phoenix X-Ray system
- caractérisation des couches minces : le centre de compétences dispose de 3 appareils équipés d’un cercle d’Euler, permettant de caractériser l’échantillon suivant son orientation. La complémentarité de ces 3 appareils sera présentée et illustrée lors des deux présentations faites par des intervenants de l’IJL
Public
Le public concerné est un public averti sur la diffraction des rayons X, et intéressé à la fois par les aspects techniques et scientifiques rencontrés lors de mesures de diffraction X.
Objet de la formation
Apporter les connaissances nécessaires à la caractérisation par la diffraction des rayons X : tomographie, matériaux transparents aux rayons X, couches minces.
Objectif de la formation
- être capable de définir les caractéristiques du diffractomètre et les conditions de mesure qui permettront d'obtenir les informations nécessaires
- savoir comment traiter les informations et connaître les logiciels adaptés
- connaître les avantages et les limites de ces techniques
- partage de connaissances par la présentation de posters et la visite des laboratoires
Programme de la journée
- 9h - 9h15 : Introduction
- 9h15 - 10h00 : Tomographie X, par Dominique Bernard, Institut de la matière condensée de Bordeaux - Pessac
- 10h00 - 10h45 : session posters
- 10h45 - 11h30 : Diffusion des rayons X aux petits angles, par Jean-Michel Guenet, Institut Charles Sadron CNRS - Strasbourg
- 11h30 - 12h00 : discussions
- 14h00 - 14h45 : Caractérisation des couches minces polycristallines au CC XGamma, par Pascal Boulet, Institut Jean Lamour - Nancy
- 14h45 - 15h30 : session posters
- 15h30 - 16h15 : Caractérisation des films épitaxiés au CC XGamma, par Ausrine Bartasyte, Institut Jean Lamour - Nancy
- 16h15 - 17h00 : visite de l'Institut Jean Lamour
Contact
Pascal Boulet - p.boulet@univ-lorraine.fr
