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Index « ISSN » - entrée « Scanning »
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List of bibliographic references indexed by Scanning

Number of relevant bibliographic references: 7.
Ident.Authors (with country if any)Title
000501 (2011) Dale E. Newbury [États-Unis] ; Nicholas W. M. Ritchie [États-Unis]Can X‐ray spectrum imaging replace backscattered electrons for compositional contrast in the scanning electron microscope?
000B87 (2008) Proceeding of SCANNING 2008
000B88 (2008) Proceeding of SCANNING 2008
001025 (2006) Proceedings of SCANNING 2006 April 25–27, 2006 Washington, D.C., USA
001224 (2005) Dale E. Newbury [États-Unis]X‐ray spectrometry and spectrum image mapping at output count rates above 100 kHz with a silicon drift detector on a scanning electron microscope
001259 (2005) Proceedings of SCANNING 2005 April 5–7, 2005 Monterey, Calif., USA
004032 (1983) E. Wolfgang [Allemagne]Electron beam testing: Problems in practice

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