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Serveur d'exploration Cyberinfrastructure - Merge (Accueil)

Index « Idat.i » - entrée « 1570-7873:2011:Thierion V:grid:technology:reliability »
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1569-8025:2009:Haley B:computational:nanoelectronics:research < 1570-7873:2011:Thierion V:grid:technology:reliability < 1600-5767:2007:Miller R:shake:and:bake  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000636 (2011-01-10) Vincent Thierion [France] ; Pierre-Alain Ayral [France] ; Jacob Geisel [France] ; Sophie Sauvagnargues [France] ; Olivier Payrastre [France]Grid technology reliability for flash flood forecasting: end-user assessment

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

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Wicri

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