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Serveur d'exploration sur le thulium - Analysis (USA)

Index « Keywords » - entrée « Atomic force microscopy »
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Atomic fluorescence spectroscopy < Atomic force microscopy < Atomic fraction  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
000313 (2008) Mitch André Garcia [États-Unis] ; Mazhar Nawaz Ali [États-Unis] ; Tashi Parsons-Moss [États-Unis] ; Paul David Ashby [États-Unis] ; Heino Nitsche [États-Unis]Metal oxide films produced by polymer-assisted deposition (PAD) for nuclear science applications
000371 (2005) J. Kim ; P. Holloway [États-Unis]Near‐Infrared‐Electroluminescent Light‐Emitting Planar Optical Sources Based on Gallium Nitride Doped with Rare Earths
000497 (2001) C. H. Lin [États-Unis] ; R. J. Hwu ; L. P. Sadwick ; D. HeoMolecular beam epitaxy growth of TmP/GaAs and transistor action in GaP/TmP/GaAs heterostructures

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