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Serveur d'exploration sur le thulium - Checkpoint (Pascal)

Index « PascalFr.i » - entrée « Diffraction électron lent »
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Diffraction électron < Diffraction électron lent < Diffusion  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
001816 (1993-07) Propriétés structurales et électroniques des films ultraminces de samarim et de thulium supportés sur métaux
001848 (1993) C. Wigren [Suède] ; J. N. Andersen [Suède] ; R. Nyholm [Suède] ; U. O. KarissonPhotoelectron spectroscopy studies of Tm silicide films on Si(111)

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