| 7320 < 7320A < 7320D | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 4.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 000210 (2011) | Akira Wada [Japon] ; Takeshi Ogaki [Japon] ; Masahito Niibe [Japon] ; Masahito Tagawa [Japon] ; Hidetoshi Saitoh [Japon] ; Kazuhiro Kanda [Japon] ; Haruhiko Ito [Japon] | Local structural analysis of a-SiCx:H films formed by decomposition of tetramethylsilane in microwave discharge flow of Ar |
| 001343 (1997) | C. Laubschat [Allemagne] | Electron properties and surface effects of rare-earth systems |
| 001650 (1994-11-15) | M. Bodenbach [Allemagne] ; A. Höhr [Allemagne] ; C. Laubschat [Allemagne] ; G. Kaindl [Allemagne] ; M. Methfessel [Allemagne] | Surface electronic structure of Tm(0001) and Yb(111) |
| 001816 (1993-07) | Propriétés structurales et électroniques des films ultraminces de samarim et de thulium supportés sur métaux |
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