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Serveur d'exploration sur le thulium - Checkpoint (Pascal)

Index « Keywords » - entrée « Complementary MOS technology »
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Compensation point < Complementary MOS technology < Complex catalyst  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
000031 (2014) Eugenio Dentoni Litta [Suède] ; Per-Erik Hellström [Suède] ; Christoph Henkel [Suède] ; Mikael Östling [Suède]Electrical characterization of thulium silicate interfacial layers for integration in high-k/metal gate CMOS technology
000052 (2013) Eugenio Dentoni Litta [Suède] ; Per-Erik Hellström [Suède] ; Christoph Henkel [Suède, Allemagne] ; Mikael Östling [Suède]Thulium Silicate Interfacial Layer for Scalable High-k/Metal Gate Stacks
000149 (2012) A. I. Figueroa [Espagne] ; J. Bartolome [Espagne] ; J. M. García Del Pozo [Espagne] ; A. Arauzo [Espagne] ; E. Guerrero [Espagne] ; P. Tellez [Espagne] ; F. Bartolome [Espagne] ; L. M. Garia [Espagne]Low temperature radio-frequency transverse susceptibility measurements using a CMOS oscillator circuit

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/KwdEn.i  \
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