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Serveur d'exploration sur le thulium - Checkpoint (Pascal)

Index « FC03.fr.i » - entrée « Diffraction électron lent »
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Diffraction électron < Diffraction électron lent < Diffusion  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
001816 (1993-07) Propriétés structurales et électroniques des films ultraminces de samarim et de thulium supportés sur métaux
001848 (1993) C. Wigren [Suède] ; J. N. Andersen [Suède] ; R. Nyholm [Suède] ; U. O. KarissonPhotoelectron spectroscopy studies of Tm silicide films on Si(111)

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
1C. Wigren
1J. N. Andersen
1R. Nyholm
1U. O. Karisson

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EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Terre/explor/ThuliumV1/Data/Pascal/Checkpoint

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i -k "Diffraction électron lent" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i  \
                -Sk "Diffraction électron lent" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/biblio.hfd

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   |area=    ThuliumV1
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   |index=    FC03.fr.i
   |clé=    Diffraction électron lent
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Data generation: Thu May 12 08:27:09 2016. Site generation: Thu Mar 7 22:33:44 2024