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Serveur d'exploration sur le thulium - Checkpoint (Pascal)

Index « FC03.fr.i » - entrée « 8115H »
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8115G < 8115H < 8115J  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 6.
Ident.Authors (with country if any)Title
000197 (2011) T. Ji [République populaire de Chine] ; J. Cui [République populaire de Chine] ; Z. B. Fang [République populaire de Chine] ; T. X. Nie [République populaire de Chine] ; Y. L. Fan [République populaire de Chine] ; X. L. Li [République populaire de Chine] ; Q. He [République populaire de Chine] ; Z. M. Jiang [République populaire de Chine]Single crystalline Tm2O3 films grown on Si (0 0 1) by atomic oxygen assisted molecular beam epitaxy
000A80 (2003-12-01) U. Hommerich [États-Unis] ; Ei Ei Nyein [États-Unis] ; D. S. Lee [États-Unis] ; A. J. Steckl [États-Unis] ; J. M. Zavada [États-Unis]Photoluminescence properties of in situ Tm-doped AlxGa1-xN
000A88 (2003-09-15) D. S. Lee [États-Unis] ; A. J. Steckl [États-Unis]Enhanced blue emission from Tm-doped AlxGa1-xN electroluminescent thin films
000B64 (2003) C. H. Lin [États-Unis] ; R. J. Hwu [États-Unis] ; L. P. Sadwick [États-Unis]Formation of microtwins in TmP/GaAs heterostructures
000D32 (2001-11) C. H. Lin [États-Unis] ; R. J. Hwu [États-Unis] ; L. P. Sadwick [États-Unis]Investigation of crystal properties of TmP/GaAs and GaAs/TmP/GaAs heterostructures grown by molecular beam epitaxy
001021 (1999-10-11) A. J. Steckl [États-Unis] ; M. Garter [États-Unis] ; D. S. Lee [États-Unis] ; J. Heikenfeld [États-Unis] ; R. Birkhahn [États-Unis]Blue emission from Tm-doped GaN electroluminescent devices

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
3A. J. Steckl
3D. S. Lee
2C. H. Lin
2L. P. Sadwick
2R. J. Hwu
1Ei Ei Nyein
1J. Cui
1J. Heikenfeld
1J. M. Zavada
1M. Garter
1Q. He
1R. Birkhahn
1T. Ji
1T. X. Nie
1U. Hommerich
1X. L. Li
1Y. L. Fan
1Z. B. Fang
1Z. M. Jiang

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i  \
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