| Y. Paderno < Y. Q. Cai < Y. Q. Wang | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 2.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 000819 (2006) | I. Jarrige [Taïwan] ; J.-P. Rueff [France] ; S. R. Shieh [Taïwan] ; T. Matsumura [Japon] ; H. Ishii [Taïwan] ; N. Hiraoka [Taïwan] ; Y. Q. Cai [Taïwan] | f-Level occupancy in TmTe under pressure investigated by high-resolution X-ray absorption spectroscopy |
| 000904 (2005) | I. Jarrige [Taïwan] ; H. Ishii [Taïwan] ; Y. Q. Cai [Taïwan] ; J.-P. Rueff [France] ; C. Bonnelle [France] ; T. Matsumura [Japon] ; S. R. Shieh [Taïwan] | Valence state of Tm in TmX (X = S, Se, Te) investigated by resonant inelastic x-ray scattering |
List of associated FC03.fr.i
| Nombre de documents | Descripteur |
|---|---|
| 2 | Spectre absorption RX |
| 1 | 7120E |
| 1 | 7128 |
| 1 | 7870 |
| 1 | 7870D |
| 1 | Chalcogénure |
| 1 | Diffusion RX |
| 1 | Diffusion inélastique |
| 1 | Effet pression |
| 1 | Etat mixte |
| 1 | Haute pression |
| 1 | Résonance |
| 1 | Structure électronique |
| 1 | Te |
| 1 | Thulium composé |
| 1 | Thulium tellurure |
| 1 | TmTe |
| 1 | Valence |
| 1 | Valence mixte |
Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)
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|area= ThuliumV1
|flux= Pascal
|étape= Checkpoint
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|clé= Y. Q. Cai
}}
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