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Serveur d'exploration sur le thulium - Checkpoint (Pascal)

Index « Auteurs » - entrée « N. Boukos »
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N. Bodenschatz < N. Boukos < N. Britos  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
001277 (1997-02-01) A. Travlos ; N. Salamouras ; N. BoukosGrowth, structure and electrical properties of epitaxial thulium silicide thin films on silicon

List of associated FC03.fr.i

Nombre de
documents		Descripteur
16855J
17361A
17570A
18115K
18140G
1Conductivité électrique
1Couche mince
1Couche épitaxique magnétique
1Couche épitaxique métallique
1Croissance
1Diffraction RX
1Epitaxie
1Epitaxie phase vapeur
1Etude expérimentale
1Microscopie électronique
1Propriété magnétique
1Recuit
1Résistivité électrique
1Silicium alliage
1Structure cristalline
1Thulium alliage
1Thulium siliciure

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/Author.i  \
                -Sk "N. Boukos" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/biblio.hfd

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   |area=    ThuliumV1
   |flux=    Pascal
   |étape=   Checkpoint
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   |index=    Author.i
   |clé=    N. Boukos
}}
Wicri

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Data generation: Thu May 12 08:27:09 2016. Site generation: Thu Mar 7 22:33:44 2024