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Serveur d'exploration sur le thulium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « Alain Laurent »
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Alain Cousson < Alain Laurent < Alain Pastouret  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000291 (2000) Arnaud Huignard [France] ; Astrid Aron [France] ; Patrick Aschehoug [France] ; Bruno Viana [France] ; Jeanine Théry [France] ; Alain Laurent [France] ; Jacques Perrière [France]Growth by laser ablation of Y2O3 and Tm∶Y2O3 thin films for optical applications

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Absorption spectra
1Amorphous silica
1Appl
1Asymmetric diffraction
1Characterization
1Chem
1Crystal growth from vapors
1Crystal orientation
1Crystal perfection
1Crystalline
1Crystalline quality
1Different oxygen pressures
1Diffraction peaks
1Doped
1Doped materials
1Epitaxial layers
1Excitation wavelength
1Experimental conditions
1Experimental study
1Fluorescence
1Growth rate
1Laser
1Laser ablation technique
1Laser deposition
1Lattice
1Lattice mismatch
1Lattice mismatches
1Lattice parameter
1Luminescence
1Luminescence spectra
1Mater
1Mismatch
1Operating mode
1Optical properties
1Orientation relation
1Oxygen pressure
1Oxygen pressures
1Oxygen vacancies
1Paris cedex
1Phys
1Preferential growth
1Pulsed lasers
1Room temperature
1Rutherford backscattering spectroscopy
1Same conditions
1Silicon substrates
1Substrates
1Thin films
1Thulium
1Thulium additions
1Thulium concentration
1Thulium ions
1Undoped
1Uorescence
1Uorescence spectra
1Uorite type structure
1Visible luminescence
1Visible range
1Visible spectra
1Waveguide applications
1Yttrium
1Yttrium oxide
1Yttrium oxides

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   |flux=    France
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   |index=    Author.i
   |clé=    Alain Laurent
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