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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « X-ray topography »
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X-ray spectroscopy < X-ray topography < XANES  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
002259 (1999) New insight into the origin of twin and grain boundary in InP
002820 (1993) Structure of InxGa1-xAs/GaAs strained-layer superlattices

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "X-ray topography" \
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   |area=    IndiumV3
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   |index=    KwdEn.i
   |clé=    X-ray topography
}}
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