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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Root mean square value »
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Root mean square displacement < Root mean square value < Rotating disk electrode  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
000039 (2014) Bias voltage dependence properties of Nb-doped indium tin oxide thin films by RF magnetron sputtering at room temperature
000176 (2013) MoO3-Au composite interfacial layer for high efficiency and air-stable organic solar cells
001071 (2008) Pentacene thin-film transistors with sol-gel derived amorphous Ba0.6Sr0.4TiO3 gate dielectric

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i -k "Root mean square value" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Root mean square value" \
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   |area=    IndiumV3
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