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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Bias temperature instability »
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Bethe-Salpeter equation < Bias temperature instability < Bias voltage  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000541 (2012) Experimental Investigation of Border Trap Generation in InGaAs nMOSFETs With Al2O3 Gate Dielectric Under PBTI Stress

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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