Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « ZHI MIN LIU »
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ZHI LIU < ZHI MIN LIU < ZHI PING WANG  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000B19 (2010) Influence of the channel layer thickness on electrical properties of indium zinc oxide thin-film transistor
000B65 (2010) Enhancement of electrical performance in In2O3 thin-film transistors by improving the densification and surface morphology of channel layers

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents
Descripteur
2Active layer
2Cathodic sputtering
2Electrical characteristic
2Indium oxide
2Performance evaluation
2Radiofrequency sputtering
2Room temperature
2Silicon
2Silicon oxides
2Thin film transistor
2Voltage threshold
1Amorphous material
1Charge carrier density
1Diffusion
1Drain current
1Electrical properties
1Free carrier
1Interface
1Radiofrequency
1Size effect
1Surface structure
1Thickness
1Thin film
1Transparent electronics
1Zinc oxide
1n type semiconductor

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   |area=    IndiumV3
   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
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   |clé=    ZHI MIN LIU
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Wicri

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