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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « K. S. Chan »
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K. R. Evans < K. S. Chan < K. S. Cho  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000096 (2013) Surface roughness induced electron mobility degradation in InAs nanowires

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1CVD
1Catalysts
1Coatings
1Crystallinity
1Electrical properties
1Electron mobility
1Electronic properties
1III-V compound
1III-V semiconductors
1Indium arsenides
1Interfaces
1Nanoelectronics
1Nanomaterial synthesis
1Nanostructured materials
1Nanowires
1Nickel
1Phonon scattering
1Roughness
1Scaling laws
1Surface effect
1Surface morphology
1Surface scattering
1Surface states
1Temperature measurement

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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                -Sk "K. S. Chan" \
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   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
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   |index=    Author.i
   |clé=    K. S. Chan
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Wicri

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