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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « HAISHENG SAN »
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HAIRONG YUAN < HAISHENG SAN < HAISHENG XU  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
001759 (2005) Point-defects-induced band edge displacements and band-gap narrowing in CdIn2O4 thin films

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Absorption edge
1Burstein-Moss shift
1Cadmium oxides
1Carrier density
1Carrier mobility
1Damping
1Experimental study
1Films
1Free electron
1Hall effect
1Impurity scattering
1Indium oxides
1Point defects
1Radiofrequency sputtering
1Reactive sputtering
1Spinels
1Temperature dependence
1Ternary compounds
1Transmittance
1Transparent material
1n type semiconductor

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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                -Sk "HAISHENG SAN" \
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   |area=    IndiumV3
   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    Author.i
   |clé=    HAISHENG SAN
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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024