	Y. W. Zhao	9
	Defect detection	2
	Y. W. Zhao *Sauf* Defect detection"	8
	Defect detection *Sauf* Y. W. Zhao"	1
	Y. W. Zhao Et Defect detection	1
	Y. W. Zhao Ou Defect detection	10
	*Corpus*	4194

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Number of relevant bibliographic references: 1.

Ident.	Authors (with country if any)	Title
001A42		Annealing ambient controlled deep defect formation in InP

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