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Eléments de l'association

X. Zhou8
Defect density15
X. Zhou Sauf Defect density" 7
Defect density Sauf X. Zhou" 14
X. Zhou Et Defect density 1
X. Zhou Ou Defect density 22
Corpus4194
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List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
001557 Role of deep traps in carrier generation and transport in differently doped InP wafers
Wicri

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