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QUN ZHANG13
X-ray diffraction analysis9
QUN ZHANG Sauf X-ray diffraction analysis" 12
X-ray diffraction analysis Sauf QUN ZHANG" 8
QUN ZHANG Et X-ray diffraction analysis 1
QUN ZHANG Ou X-ray diffraction analysis 21
Corpus4194
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Ident.Authors (with country if any)Title
001199 Dependence of electrical and optical properties on thickness of tungsten-doped indium oxide thin films
Wicri

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