| Niveau impureté < Niveau peu profond < Niveau énergie | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 2.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 000082 (2013) | I. Z. Mitrovic [Royaume-Uni] ; M. Althobaiti [Royaume-Uni] ; A. D. Weerakkody [Royaume-Uni] ; N. Sedghi [Royaume-Uni] ; S. Hall [Royaume-Uni] ; V. R. Dhanak [Royaume-Uni] ; P. R. Chalker [Royaume-Uni] ; C. Henkel [Suède] ; E. Dentoni Litta [Suède] ; P.-E. Hellström [Suède] ; M. Östling [Suède] | Interface engineering of Ge using thulium oxide: Band line-up study |
| 000B33 (2003) | Krishna G. Nath [Japon] ; Yüksel Ufuktepe [Japon] ; Shin-Ichi Kimura [Japon] ; Yuichi Haruyama [Japon] ; Toyohiko Kinoshita [Japon] ; Takeshi Matsumura [Japon] ; Takashi Suzuki [Japon] ; Haruhiko Ogasawara [Japon] ; Akio Kotani [Japon] | Photoemission study of mixed-valent Tm-monochalcogenides: Evidence of electron-correlation effect in different Tm-core levels |
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