| Spectrométrie DRIFT < Spectrométrie EXAFS < Spectrométrie FTIR | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 3.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 000F63 (2000) | G. Jacobs [États-Unis] ; F. Ghadiali [États-Unis] ; A. Pisanu [États-Unis] ; C. L. Padro [États-Unis] ; A. Borgna [États-Unis] ; W. E. Alvarez [États-Unis] ; D. E. Resasco [États-Unis] | Increased sulfur tolerance of Pt/KL catalysts prepared by vapor-phase impregnation and containing a Tm promoter |
| 001886 (1993) | Y. Charreire [France] ; D.-R. Svoronos [France] ; I. Ascone [France] ; O. Tolonen ; L. Niinistö ; M. Leskel | Extended X-ray absorption fine structure studies of luminescent centers in II-VI thin films |
| 001C79 (1987) | H. Beuthien ; A. Torkler ; W. Gunsser ; W. Niemann | X-Ray investigations of the thulium-iron crystallization process |
List of associated Author.i
| Nombre de documents | Descripteur |
|---|---|
| 1 | A. Borgna |
| 1 | A. Pisanu |
| 1 | A. Torkler |
| 1 | C. L. Padro |
| 1 | D. E. Resasco |
| 1 | D.-R. Svoronos |
| 1 | F. Ghadiali |
| 1 | G. Jacobs |
| 1 | H. Beuthien |
| 1 | I. Ascone |
| 1 | L. Niinistö |
| 1 | M. Leskel |
| 1 | O. Tolonen |
| 1 | W. E. Alvarez |
| 1 | W. Gunsser |
| 1 | W. Niemann |
| 1 | Y. Charreire |
Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)
EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Terre/explor/ThuliumV1/Data/Pascal/Checkpoint
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i -k "Spectrométrie EXAFS"
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i \
-Sk "Spectrométrie EXAFS" \
| HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/biblio.hfd
Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri
{{Explor lien
|wiki= Wicri/Terre
|area= ThuliumV1
|flux= Pascal
|étape= Checkpoint
|type= indexItem
|index= FC03.fr.i
|clé= Spectrométrie EXAFS
}}
| This area was generated with Dilib version V0.6.21. |  |