| Emissivité < Empilement < Empilement compact | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 3.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 000031 (2014) | Eugenio Dentoni Litta [Suède] ; Per-Erik Hellström [Suède] ; Christoph Henkel [Suède] ; Mikael Östling [Suède] | Electrical characterization of thulium silicate interfacial layers for integration in high-k/metal gate CMOS technology |
| 000082 (2013) | I. Z. Mitrovic [Royaume-Uni] ; M. Althobaiti [Royaume-Uni] ; A. D. Weerakkody [Royaume-Uni] ; N. Sedghi [Royaume-Uni] ; S. Hall [Royaume-Uni] ; V. R. Dhanak [Royaume-Uni] ; P. R. Chalker [Royaume-Uni] ; C. Henkel [Suède] ; E. Dentoni Litta [Suède] ; P.-E. Hellström [Suède] ; M. Östling [Suède] | Interface engineering of Ge using thulium oxide: Band line-up study |
| 000120 (2012) | Jenn-Jiang Hwang [Taïwan] | Thermal regenerative design of a fuel cell cogeneration system |
List of associated Author.i
| Nombre de documents | Descripteur |
|---|---|
| 1 | A. D. Weerakkody |
| 1 | C. Henkel |
| 1 | Christoph Henkel |
| 1 | E. Dentoni Litta |
| 1 | Eugenio Dentoni Litta |
| 1 | I. Z. Mitrovic |
| 1 | Jenn-Jiang Hwang |
| 1 | M. Althobaiti |
| 1 | M. Östling |
| 1 | Mikael Östling |
| 1 | N. Sedghi |
| 1 | P. R. Chalker |
| 1 | P.-E. Hellström |
| 1 | Per-Erik Hellström |
| 1 | S. Hall |
| 1 | V. R. Dhanak |
Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)
EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Terre/explor/ThuliumV1/Data/Pascal/Checkpoint
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i -k "Empilement"
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/FC03.fr.i \
-Sk "Empilement" \
| HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Pascal/Checkpoint/biblio.hfd
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{{Explor lien
|wiki= Wicri/Terre
|area= ThuliumV1
|flux= Pascal
|étape= Checkpoint
|type= indexItem
|index= FC03.fr.i
|clé= Empilement
}}
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