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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Russie)

Index « Keywords » - entrée « Deep level transient spectroscopy »
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Deep level transient spectrometry < Deep level transient spectroscopy < Defect  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000787 (2002) Studies of deep centers in dilute GaAsN and InGaAsN films grown by molecular beam epitaxy
000819 (2002) Interface properties and deep levels in InGaAsN/GaAs and GaAsN/GaAs heterojunctions

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Russie/Analysis

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