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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « X ray topography »
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X ray spectrometry < X ray topography < X-ray absorption  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
002739 (1993) Back-reflection topographic study of mixed cells in LEC-grown GaAs 0.2 at.% In
002E13 (1988) Double-crystal x-ray investigations of semi-insulating (Ga,Fe) double-doped InP substrates
002E61 (1987) X-ray topography and TEM studies of (Ga,Fe)-double-doped LEC grown InP crystals
002F41 (1987) Dislocation velocity measurements in semi-insulating In-doped GaAs
003020 (1986) Identification of Burgers vectors along <111> in In-doped GaAs, by X-ray transmission topography and image simulation

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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