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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Very high speed integrated circuits »
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Very high pressure < Very high speed integrated circuits < Very low temperature  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
000019 (2013) Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements
000179 (2011) Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT under thermal and electrical stresses
000277 (2010) Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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