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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Structure relaxation »
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Structure processing relationship < Structure relaxation < Structure resolution  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 4.
Ident.Authors (with country if any)Title
000F87 (2002) Low misfit systems as tools for understanding dislocation relaxation mechanisms in semiconducting heteroepitaxial films
001051 (2002) A combined RHEED and photoemission comparison of the GaP and InP(0 0 1) (2 × 4) surface reconstructions
002721 (1993) Chemical-shift low-energy photoelectron diffraction : a determination of the InP(110) clean surface structural relaxation
002919 (1992) Critical thicknesses of highly strained InGaAs layers grown on InP by molecular beam epitaxy

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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