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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Semiconductor device noise »
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Semiconductor device models < Semiconductor device noise < Semiconductor device reliability  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000791 (2006) On the simulation of low-frequency noise upconversion in InGaP/GaAs HBTs
000C48 (2003-04-01) Analysis of 1/f noise current sources in InP/InGaAs heterojunction bipolar transistors
001120 (2001-02-15) Low Frequency Noise of InP/InGaAs Heterojunction Bipolar Transistors
001598 (1999-02) Influence of strain compensation on structural and electrical properties of InAlAs/InGaAs HEMT structures grown on InP
001831 (1998-09-01) Influence of geometry and passivation on noise in GaInP/GaAs heterojunction bipolar transistors

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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