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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Moire fringes »
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Moire deflectometry < Moire fringes < Molecular assembly  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000F01 (2002) TEM evaluation of epitaxial strain in III-V semi-conductors: evidence of coherent and incoherent stress relaxation
000F71 (2002) Moiré-like fringes in transmission electron microscopy images of coherently strained semiconductor islands

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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                -Sk "Moire fringes" \
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