Measurement errors < Measurement method < Measurement result

Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 22.
[0-20] [0 - 20][0 - 22][20-21][20-40]

Ident.	Authors (with country if any)	Title
001466 (2000)		Design and fabrication of optical microcavities using III-V semiconductor-based MOEMS
001A59 (1997-12)		Caractérisation et modélisation petit signal et en bruit des transistors bipolaires à hétérojonction aux fréquences micro-ondes
001B90 (1997)		Thermal studies from images obtained with a thermal scanning system
001D96 (1996-06)		Etude du régime transitoire dans les oscillateurs à super-réseau GaInAs/AlInAs par échantillonnage électro-optique picoseconde
001E26 (1996-03)		Mesure des indices de réfraction de semiconducteurs III - V en structure guide d'onde
001E54 (1996)		Etude méthodologique de la vidange gastrique scintigraphique appliquée chez le patient diabétique
001E69 (1996)		Study on the reliability of an InP/InGaAsP integrated laser modulator
002135 (1995)		Piezoelectric field measurements by photoreflectance in strained InGaAs/GaAs structures grown on polar substrates
002225 (1994-12)		Optimisation du transistor bipolaire à hétérojonction GaAs à fort dopage de base
002641 (1993)		Infrared free-electron laser measurement of power limiting by two-photon absorption in InSb
002859 (1992)		Interferometric measurement of the linewidth enhancement factor of a 1.55 μm strained multiquantum-well InGaAs/InGaAsP amplifier
002878 (1992)		In situ probing at the growth temperature of the surface composition of (InGa)As and (InAl)As
002894 (1992)		Gain measurement in InGaAs/InGaAsP multiquantum-well broad-area lasers
002A72 (1991)		A review of the band offsets measurements in the GaAs/Ga0.49In0.51P system
002B80 (1990)		Determination of optical constants of thin film from reflectance spectra
002C00 (1990)		40 GHz measurement on InP/air gap line by picosecond electro-optic sampling
002C10 (1989)		Problèmes théoriques et pratiques posés par la mesure de la filtration capillaire avec des traceurs radioactifs
002D60 (1988)		Photoelectrochemical measurement of effective diffusion length of carriers in lamellar semiconductors. Application to InSe
002D76 (1988)		Lithium insertion into indium sesquiselenide
002D99 (1988)		Fracture toughness of pure and In-doped GaAs
002E67 (1987)		Thermal diffusivity measurement of micron-thick semiconductor films by mirage detection

---

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i -k "Measurement method" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Measurement method" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/biblio.hfd 

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Measurement method
}}

---

This area was generated with Dilib version V0.5.77. Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024