Keywords
Analysis
France
Racine
Analysis
France
Repository
Accueil
Racine
Racine

Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Investigation method »
Attention, ce site est en cours de développement !
Attention, site généré par des moyens informatiques à partir de corpus bruts.
Les informations ne sont donc pas validées.
Inversion layer < Investigation method < Iobenguane(131I)  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 13.
Ident.Authors (with country if any)Title
000189 (2011) On the imaging of electron transport in semiconductor quantum structures by scanning-gate microscopy: successes and limitations
000194 (2011) Nanostructured thin films of indium oxide nanocrystals confined in alumina matrixes
000D27 (2003) Nanostructure and properties of ZnO films produced by the pyrosol process
001284 (2001) Absolute determination of the Fermi level pinning at the dielectric/semiconductor interface in GaAs based heterostructures
001692 (1999) Near-field electroluminescence probe of polymer light-emitting diodes
001B27 (1997-06) Etude EXAFS d'alliages semiconducteurs epitaxiés par détection du rayonnement X de fluorescence
001B59 (1997) Utilisation de traceurs radioactifs pour l'évaluation du recrutement des leucocytes et des échanges vasculaires au niveau d'organes in vivo. Description d'une méthode et discussion des problèmes d'interprétation sur quelques exemples
001E25 (1996-03) Utilisation des phénomènes de reconnaissance des chélates métalliques par les protéines en tant qu'outils biotechnologiques: de l'exploitation de la chromatographie d'affinité sur ions métalliques immobilisés à l'étude d'anticorps anti-chélates métalliques en vue de la production d'abzymes
002537 (1993) Surface plasmon-induced luminescence : a new way to investigate space charge dynamics in thin dielectric films
002656 (1993) High-resolution energy analysis of field-assisted photoemission : a spectroscopic image of hot-electron transport in semiconductors
002B22 (1990) Optical properties of the main electron-irradiation-induced defects in p-type InP : comparison with calculations for the isolated and acceptor-paired phosphorus vacancy
002B29 (1990) Novel photoemission approach to hot-electron transport in semiconductors
003069 (1985) Platelet regeneration time after aspirin ingestion and platelet survival time after labelling with 51 chromium of 111indium oxine ― a comparative study

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i -k "Investigation method" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Investigation method" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/biblio.hfd

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Investigation method
}}
Wicri

This area was generated with Dilib version V0.5.77.
Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024