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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Ideality »
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Icosahedral phase < Ideality < Identical active layer method  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000179 (2011) Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT under thermal and electrical stresses
001028 (2002) Effect of leakage current induced by B+H+ implantation in the isolation process for self passivated GaAlAs/GaInP/GaAs HBT
001D52 (1996-10) Contribution à la caractérisation des diodes Schottky Oxydées: Application au phosphure d'indium
002B10 (1990) Rectifying and photovoltaic parameters of indium telluride(p)-cadmium sulfide(n) thin film heterojunctions
002C43 (1989) Pseudomorphic GaInP Schottky diode and high electron mobility transistor on InP

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