Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Experimental test »
Attention, ce site est en cours de développement !
Attention, site généré par des moyens informatiques à partir de corpus bruts.
Les informations ne sont donc pas validées.
Experimental study < Experimental test < Experimental tumor  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 13.
Ident.Authors (with country if any)Title
000D08 (2003) Precise validation of database (n, γ) cross sections using a lead-slowing-down spectrometer and simulation from 0.1 eV to 30 keV: Methodology and data for a few elements
001A54 (1997-12) Modélisation non linéaire des Transistors Bipolaires à Hétérojonction pour la conception des circuits micro-ondes. Méthodes de caractérisation associées au modèle
001B41 (1997-04) Analyse électromagnétique globale de structures actives microruban à fonctionnement non-linéaire. Conception et caractérisation en bande millimétrique d'antennes imprimées passives et actives sur substrats à forte permittivité
001E90 (1996) Photoluminescence intensity study of n-InP diodes in the accumulation regime
001F80 (1996) A 90% power-added-deficiency GaInP/GaAs HBT for L-band radar and mobile communication systems
002149 (1995) Modelling of self-aligned total internal reflection waveguide mirrors : an interlaboratory comparison
002233 (1994-11) Transport électronique en régime de mobilité: application aux systèmes bidimensionnels contraints InAlAs/InGaAs/InAlAs
002238 (1994-11) Etude de photodétecteurs métal-semiconducteur-métal pour des applications micro-ondes
002247 (1994-10) Interdiffusion des puits quantiques et des superréseaux à base du quaternaire InGaAsP pour l'intégration monolithique des composants opto-électroniques
002254 (1994-09) Modélisation de diodes laser à puits quantiques contraints GaInAs émettant dans la gamme des 980 nm
002258 (1994-09) Caractérisation et modélisation des bruits blancs et 1/F des diodes lasers à semiconducteur
002278 (1994-06) Transistors à effet de champ à hétérojonction à grille submicrométrique: modélisation des performances limites et comparaison avec les mesures
002396 (1994) InGaAsP channel HFET's on InP for OEIC applications

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i -k "Experimental test" 
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Experimental test" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/biblio.hfd 

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Experimental test
}}

Wicri

This area was generated with Dilib version V0.5.77.
Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024