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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Drain current »
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Double scintigraphy < Drain current < Drain current fluctuations  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000036 (2013) Noise Measurements of Discrete HEMT Transistors and Application to Wideband Very Low-Noise Amplifiers
000188 (2011) Origin of Low-Frequency Noise in the Low Drain Current Range of Bottom-Gate Amorphous IGZO Thin-Film Transistors
000567 (2008) Impact of channel orientation on ballistic current of nDGFETs with alternative channel materials : Ultimate integration on silicon conference 2007
000B38 (2004) InAlAs/InGaAs double-gate HEMTs with high extrinsic transconductance
001F61 (1996) Deep levels in Au-POxNyHz-(n)InP MIS structures

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i -k "Drain current" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Drain current" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/biblio.hfd

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{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Drain current
}}
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