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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Defect »
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Deep level transient spectroscopy < Defect < Defect absorption spectra  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 6.
Ident.Authors (with country if any)Title
000175 (2011) Status of p-on-n Arsenic-Implanted HgCdTe Technologies
000288 (2010) Optoelectronic evaluation of the nanostructuring approach to chalcopyrite-based intermediate band materials
000822 (2006) Growth and characterization of CuInxGa1-xTe2 used for photovoltaic conversion
000832 (2006) Fabrication and characterisation of CuInSe2/Si(1 0 0) thin films by the stacked elemental layer (SEL) technique
002971 (1991) Temperature influence on the damage induced in Si+-implanted InP
002B50 (1990) In situ defect studies on Si+ implanted InP

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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Wicri

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