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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Cryogenic temperature »
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Cryogenic circuit < Cryogenic temperature < Cryogenics  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 6.
Ident.Authors (with country if any)Title
000036 (2013) Noise Measurements of Discrete HEMT Transistors and Application to Wideband Very Low-Noise Amplifiers
000325 (2010) Electronic Properties of InAs/GaSb Superlattice Detectors to Evaluate High Temperature Operation
001A00 (1998) HEMTs for low-power and low-frequency noise 4.2 K cryoelectronics : fabrication and characterization
001E34 (1996-01) Èvolution des propriétés électriques et physiques aux basses températures de transistors à effet de champ à hétérojonction à grille courte sur substrat InP
002386 (1994) Low temperature low voltage operation of HEMTs on InP
002714 (1993) Cryogenic investigation of gate leakage and RF performance down to 50K of 0.2μm AlInAs/GaInAs/InP HEMT's

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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