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Index « Keywords » - entrée « Capacitance measurement »
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Capacitance distribution < Capacitance measurement < Capacitance voltage characteristics  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 6.
Ident.Authors (with country if any)Title
000532 (2008) New method for interface characterization in heterojunction solar cells based on diffusion capacitance measurements
001917 (1998) Theoretical analysis of kink effect in C-V characteristics of indium-implanted NMOS capacitors
001934 (1998) Step-like heterostructure barrier varactor
001C63 (1997) Improved high frequency C-V method for interface state analysis on MIS structures
001F32 (1996) High performance InP-based heterostructure barrier varactors in single and stack configuration
001F61 (1996) Deep levels in Au-POxNyHz-(n)InP MIS structures

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i -k "Capacitance measurement" 
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Capacitance measurement" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/biblio.hfd 

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{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Capacitance measurement
}}

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