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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Keywords » - entrée « Accelerated aging test »
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Abzyme < Accelerated aging test < Acceleration sensor  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000019 (2013) Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements
000179 (2011) Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT under thermal and electrical stresses
000258 (2010) Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT
000277 (2010) Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT
000333 (2010) Effects of silicone coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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   |clé=    Accelerated aging test
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