Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « S. Ould Saad »
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S. Oswald < S. Ould Saad < S. Ould Saad Hamady  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000B58 (2004) Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements
000E07 (2003) Admittance spectroscopy for non-crystalline thin film devices characterization: comparison of Cu(In, Ga)Se2 and a-Si:H cases

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents
Descripteur
2Capacitance
2Experimental study
1Aluminium
1Amorphous hydrogenated material
1Amorphous state
1Band structure
1Copper selenides
1Diode
1Electric admittance
1Electrical conductivity
1Electronic density of states
1Equivalent circuits
1Frequency dependence
1Gallium selenides
1Indium oxide
1Indium selenides
1Interface defect
1Metallophthalocyanine
1Polycrystals
1Poole Frenkel effect
1Rectifying contact
1Sandwich structure
1Semiconductor materials
1Silicon
1Solar cells
1Space charge limited conduction
1Temperature dependence
1Temperature effect
1Thin film
1Thin film devices
1Tin oxide
1Vacuum deposition
1Vapor deposition
1Voltage current curve

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   |clé=    S. Ould Saad
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