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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « S. Gourrier »
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S. Gouraud < S. Gourrier < S. Gout  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
002E84 (1987) Spatially resolved ellipsometry for semiconductor process control: applicatin to GaInAs MIS structures
003035 (1986) Current drift mechanism in In0.53Ga0.47As depletion mode metal-insulator field-effect transistors
003057 (1985) Etats électroniques à l'interface isolants GaInAsP

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
2Ellipsometry
2Field effect transistor
1Arsenides Mixed
1Auger electron spectrometry
1Deep level transient spectrometry
1Depletion mode
1Displacement
1Electric contact
1Electric current
1Electrical characteristic
1Electrical conductance
1Electrical properties
1Gallium Arsenides
1Gallium Indium
1Gallium Indium Arsenides Mixed
1Gallium Indium Arsenides phosphides Mixed
1Indium Phosphides
1Interface
1Interface electron state
1Ion implantation
1Isolated gate field effect transistor
1MIS structure
1MIS transistor
1Manufacturing
1Metallizing
1Passivation
1Photoelectron emission
1Photoluminescence
1Physical properties
1Process control
1Semiconductor insulator contact
1Silicon Nitrides
1Voltage capacity curve

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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   |clé=    S. Gourrier
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