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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « M. Gasgnier »
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M. Gartner < M. Gasgnier < M. Gass  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
002971 (1991) Temperature influence on the damage induced in Si+-implanted InP
002A22 (1991) High resolution electron microscopy study of damage created in Si-implanted InP

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
2Indium Phosphides
2Ion implantation
2Semiconductor materials
1Amorphization
1Amorphous state
1Annealing
1Atomic cluster
1Crystal orientation
1Crystal twin
1Crystals
1Defect
1Electron microscopy
1Experimental study
1High resolution
1Lattice distortion
1Precipitate
1Recrystallization
1Silicon
1Temperature
1Thermal annealing
1Thin film
1Transmission electron microscopy
1Twinning

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   |clé=    M. Gasgnier
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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024