IndiumV3, France, Analysis, indexItem, Author.i, J. Garcia

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Ident.	Authors (with country if any)	Title
000319 (2010)		GaN-based nanowires: From nanometric-scale characterization to light emitting diodes
001009 (2002)		Grazing-incidence diffraction anomalous fine structure of InAs/InP(001) self-assembled quantum wires
001592 (1999-02-15)		Diffraction-anomalous-fine-structure spectroscopy applied to the study of III-V strained semiconductors
001856 (1998-07)		Soft x-ray photoelectron diffraction study of epitaxial InGaAs/GaAs(001)
001C13 (1997)		SEXAFS study of the GaAs/InP interface
001C24 (1997)		Photoelectron diffraction investigation of strained InGaAs grown on (001) GaAs
001C91 (1997)		DAFS study of strained III-V epitaxial semiconductors

List of associated KwdEn.i

Nombre de documents	Descripteur
6	Experimental study
4	Gallium arsenides
4	III-V semiconductors
3	Indium phosphides
3	Thin films
2	Anomalous scattering
2	Binary compounds
2	Chemical composition
2	Electron diffraction
2	Epitaxial layers
2	Indium arsenides
2	Indium compounds
2	Interface structure
2	Internal stresses
2	Molecular beam epitaxy
2	Semiconductor epitaxial layers
2	Semiconductor materials
2	Solid-solid interfaces
2	Stresses
2	Ternary compounds
2	XRD
1	Arrays
1	Binary compound
1	Blueshift
1	Bond lengths
1	Cathodoluminescence
1	Comparative study
1	Core levels
1	Crystal chemistry
1	EXAFS
1	Electroluminescence
1	Electron blocking layer
1	Fine structure
1	Gallium Arsenides phosphides
1	Gallium compounds
1	Gallium nitride
1	Gallium phosphides
1	Grazing incidence
1	Heterojunctions
1	Heterostructures
1	Indium nitride
1	Light emitting diode
1	Multiple quantum well
1	Nanoelectronics
1	Nanostructured materials
1	Nanostructures
1	Nanowires
1	Photoelectron spectroscopy
1	Plastic deformation
1	Quantum confined Stark effect
1	Quantum wires
1	Radiative recombination
1	Room temperature
1	Semiconductor superlattices
1	Silicon
1	Solid solutions
1	Strains
1	Structure
1	Superlattices
1	Surface reconstruction
1	Synchrotron radiation
1	Ternary compound
1	Top contact configuration
1	Ultrathin films
1	X radiation
1	X ray scattering
1	X-ray photoelectron spectra
1	n type semiconductor
1	p type semiconductor

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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024

	Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France) Index « Auteurs » - entrée « J. Garcia »
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