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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « G. Leveque »
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G. Leroux < G. Leveque < G. Levi  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
001966 (1998) Observation of surface potential at nanometer scale by electrostatic force microscopy (EFM) with large signals
002B80 (1990) Determination of optical constants of thin film from reflectance spectra

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Annealing
1Atomic force microscopy
1Binary compounds
1Contact potential
1Electrostatic force
1Experimental study
1Indium Phosphides
1Indium arsenides
1Island structure
1Large signal behavior
1Measurement method
1Measuring methods
1Microscope tips
1Nanometer scale
1Nanostructures
1Optical constant
1Polarization
1Reflectance
1Semiconductor materials
1Surface potential
1Thin film
1Vacuum ultraviolet radiation

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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   |clé=    G. Leveque
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