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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « G. Legeay »
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G. Lecoy < G. Legeay < G. Lehoucq  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000142 (2012) A gradual annealing of amorphous sputtered indium tin oxide: Crystalline structure and electrical characteristics

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Amorphous thin film
1Annealing temperature
1Carrier density
1Carrier mobility
1Crystal defects
1Crystal seeds
1Crystal structure
1Crystallites
1Crystallization
1Electrical characteristic
1Electrical conductivity
1Electrical properties
1Grain boundaries
1Growth mechanism
1Indium oxide
1Preferred orientation
1Segregation
1Sputter deposition
1Sputtering
1Thermal annealing
1Thin films
1Tin oxide
1Titanium nitride

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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                -Sk "G. Legeay" \
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   |area=    IndiumV3
   |flux=    France
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    Author.i
   |clé=    G. Legeay
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Wicri

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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024